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TX3800便攜式全反射X射線熒光光譜儀專為精準(zhǔn)檢測而設(shè)計(jì)，能夠在極低背景噪聲下實(shí)現(xiàn)高靈敏度檢測，可快速完成液體、懸浮液、固體及污染物樣品中的痕量元素定性與定量分析，為用戶提供高效可靠的分析手段，為痕量元素分析領(lǐng)域的高性能解決方案。
TX3800憑借其制樣簡便、性能卓越、操作便捷、環(huán)保節(jié)能及經(jīng)濟(jì)高效等優(yōu)勢(shì)，成為環(huán)境監(jiān)測、科研、質(zhì)量控制等領(lǐng)域的理想分析工具。該儀器采用小巧輕便的設(shè)計(jì)，便于攜帶與運(yùn)輸，特別適合現(xiàn)場分析或移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室的應(yīng)用場景，可有效助力用戶應(yīng)對(duì)復(fù)雜分析挑戰(zhàn)。
· 高性能硬件，檢測更精準(zhǔn)可靠
· 極低檢出限，痕量元素?zé)o所遁形
· 小巧便攜，輕松應(yīng)對(duì)現(xiàn)場分析
· 低運(yùn)營成本，無需維護(hù)省心省力
· 多元素同步分析，高效精準(zhǔn)一步到位
使用優(yōu)勢(shì)
實(shí)現(xiàn)分鐘級(jí)快速處理
120秒快速處理！無需校準(zhǔn)、無需消解，讓分析從“實(shí)驗(yàn)室專屬”,變成“隨時(shí)隨地”的輕松體驗(yàn)！
檢測精度達(dá)ppb水平
儀器突破傳統(tǒng)XRF檢出限，檢出限低至ppb級(jí)，揭示微量元素的無限可能。
一鍵智能操作
采用"一鍵式"智能設(shè)計(jì)理念，操作簡單、直觀，且無需復(fù)雜的樣品制備，零基礎(chǔ)用戶也能快速上手，實(shí)現(xiàn)快速精準(zhǔn)檢測。
μL/ng級(jí)極少量樣品分析
告別傳統(tǒng)方法對(duì)大量樣品的依賴，本技術(shù)以“微量”取勝，僅需μL/ng級(jí)樣品量即可完成精準(zhǔn)分析，非常適用于樣品量有限或者珍貴樣本研究?？纱蠓档土藰悠凡杉吞幚淼碾y度，最大限度保留了樣本的完整性和研究價(jià)值。
多元素同時(shí)分析
儀器可以同時(shí)檢測鉻、鉛等8大主要重金屬元素，也可以根據(jù)檢測需求進(jìn)行元素?cái)U(kuò)展，分析近30個(gè)元素，大大節(jié)省了分析時(shí)間。
本土化服務(wù)
國內(nèi)生產(chǎn)廠家能夠提供更快捷的售后服務(wù)與技術(shù)支持，確保用戶在使用過程中的問題能夠得到及時(shí)解決。
輕便易攜
體積小巧，重量輕，便于攜帶與移動(dòng)，完美適配現(xiàn)場檢測與移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室需求，讓精準(zhǔn)分析隨時(shí)隨地觸手可及。
環(huán)境友好
與傳統(tǒng)X射線熒光光譜儀相比，TXRF采用特殊幾何配置，有效降低了輻射暴露風(fēng)險(xiǎn)，為操作人員提供了更高的安全保障，讓測試工作更加安心無憂。
低背景噪聲
X光束以掠射角照射樣品，降低了散射和熒光背景，實(shí)現(xiàn)了更低的背景噪聲，檢測低限可降低幾個(gè)數(shù)量級(jí)。
低成本運(yùn)營
國產(chǎn)TXRF設(shè)備較進(jìn)口產(chǎn)品性價(jià)比更優(yōu)，具有低能耗、微量樣品檢測的特點(diǎn)，大大減少了試劑的消耗，更無需繁瑣的前處理步驟。使用成本超低，帶來的經(jīng)濟(jì)效益卻顯著非凡！
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