鐵礦石含量分析儀

XRF工作原理是用X射線轟擊樣品，樣品受激發(fā)后產(chǎn)生X射線熒光。X射線通常把元素原子K層和L層的內(nèi)層電子打?qū)缭樱a(chǎn) 生的空穴被高能量的外層電子填補。補充到低能量軌道上的高能量電子把多余的能量以X射線熒光輻射岀來。這些輻射岀來的譜線中含有各種元素的特征。像指紋一樣，并且獨立于原子的化學(xué)價態(tài)。輻射的強度與樣品中該元素的濃度成正比。

ScopeX桌面式XRF分析儀采用了先進的工業(yè)設(shè)計及人工工程學(xué)理念，精致美觀。儀器整體擁有更小的機身體積和更大的樣品倉，節(jié)約空間的同時，帶來了更高的樣品兼容性。不論是不同形態(tài)（固、液、氣、薄膜等）還是不同形狀（塊狀、片狀、線狀）的樣品，均可被準確分析。適用于大規(guī)模連續(xù)分析、過程控制、產(chǎn)品質(zhì)量檢驗等環(huán)節(jié)，是石油、鍍層、貴金屬、水泥、礦物、金屬材料和塑料等多種行業(yè)的理想工具。

使用優(yōu)勢

高性能配置

低能X射線搭配智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點元素進行分析。

多種準直器、濾光片自動切換

5mm，3mm，1mm，0.5mm四種準直器，準直器和濾光片均可由軟件自動切換，省時省力，通過合適的準直器和濾光片或無濾光片組合可提升檢測準確度及靈敏度。

無損檢測

在不損害或不影響被檢測對象使用性能,不傷害被檢測對象內(nèi)部組織，整個測試過程無任何損傷。

Peltier制冷

先進Peltier電制冷方式，無需液氮，降低設(shè)備使用復(fù)雜度，節(jié)約人力和設(shè)備維護成本。

數(shù)據(jù)傳輸

USB、WIFI、無線藍牙等多種方式進行數(shù)據(jù)傳輸。

用戶自定義

文件可采用EXCEL，PDF等格式，用戶可自定義創(chuàng)建測試報告：包括公司標志、光譜譜圖及其他樣品信息。

安全性

全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關(guān)，設(shè)計更科學(xué)，軟硬件配合，機電聯(lián)動，輻射安全符合國標GB18871-2002、GBZ115-2002要求。

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