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當(dāng)前位置：首頁 / 產(chǎn)品中心 / 鍍層厚度分析（CTA） > INSIGHT系列(桌面式) > 曉INSIGHT鍍層分析儀
簡要描述：曉INSIGHT 鍍層分析儀使用微聚焦X射線管將X射線源的大部分射線收集并匯聚成微束斑，照射在樣品位置，從而獲得良好的空間分辨率及很強(qiáng)的熒光信號，通過能譜探頭及后續(xù)的數(shù)據(jù)處理器等采集、處理并評價樣品被輻照后產(chǎn)生的熒光信號，得出樣品的成分信息。它可實現(xiàn)更復(fù)雜應(yīng)用的快速測量和精準(zhǔn)分析，是對不均勻或形狀不規(guī)則的未知樣品以及微觀物體進(jìn)行元素分析的理想方法。
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曉INSIGHT 鍍層分析儀是一款上照式鍍層分析儀，具有外觀緊湊、節(jié)約空間、易于操作、分析快速、檢測精準(zhǔn)等特點，被廣泛應(yīng)用于常規(guī)和復(fù)雜鍍層結(jié)構(gòu)的樣品進(jìn)行元素分析和厚度檢測，尤其是對不均勻、不規(guī)則，甚至微小件等形態(tài)的樣品，確?？蛻臬@得可靠、可重復(fù)結(jié)果以滿足數(shù)百種應(yīng)用，包括：珠寶首飾、小零件、連接器鍍層、普通電路板等。
使用優(yōu)勢
多準(zhǔn)直器可選或多種準(zhǔn)直器組合由軟件自動切換，可靈活應(yīng)對不同尺寸的零件。
配備直觀而智能的分析軟件，操作簡單，任何人無需培訓(xùn)都可以測試樣品，僅僅需要點擊“開始測試”，數(shù)十秒即可獲得檢測結(jié)果啦。
高低大小樣品可快速清晰對焦，視頻圖像可放大、含十字線、自動聚焦。
儀器殼體的開槽設(shè)計（C型槽）使得測量空間寬大，樣品放置便捷，可以測量如印刷線路板類大而平整的物品，也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品。
X射線熒光是無損分析過程，不留任何痕跡，即使是對敏感性材料，其測量也是非常安全的。
選用適合于多元素鍍層的高靈敏度的半導(dǎo)體探測器，比起傳統(tǒng)的封氣正比計數(shù)器，半導(dǎo)體探測器具有更佳分辨率、更低的背景噪聲（最高 S/N 比）長期穩(wěn)定性以及更長的使用壽命。
可選配固定或電動型自動平臺，并且可編程以適應(yīng)廣泛的零件尺寸和測試量。固定樣品臺足以對易于定位檢測面積的電路板上一個或幾個位置進(jìn)行點檢。用戶可以使用固定樣品臺手動定位樣品，但是對于具有復(fù)雜設(shè)計和極小特征的電路板，在電動樣品臺上的處理效果會更好，這種樣品臺可提供更好的精確度來進(jìn)行微調(diào)。此外，INSIGHT還允許創(chuàng)建、保存和調(diào)用多點程序，以便對多個部件進(jìn)行自動化測試?？删幊?XY 載物臺與內(nèi)置模式識別軟件相結(jié)合，使大容量樣品測試既高效又一致。
應(yīng)用場景
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通用小零件和小結(jié)構(gòu) |
燃料電池 |
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